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       高壓瓷片電容器的可靠性測(cè)試，也叫老化測(cè)試及壽命測(cè)試，其中包括很多方面測(cè)試內(nèi)容，下面我們一起來(lái)了解：

1.串聯(lián)電阻測(cè)試，絕緣電阻測(cè)試；

2.拉力測(cè)試，即引線與芯片焊接的牢固度；

3.正負(fù)溫變化率測(cè)試，即-40度到+60度狀況下，電容的變化率；

4.老化測(cè)試，高壓陶瓷電容在模擬工作環(huán)境狀態(tài)下運(yùn)作30~60天，測(cè)試其衰減其各項(xiàng)參數(shù)的變化；

5.耐壓實(shí)驗(yàn)，包括額定工作電壓24小時(shí)工作測(cè)試；

也包括擊穿耐壓，即破壞性測(cè)試，電容被擊穿前的那一個(gè)臨界電壓就是擊穿電壓。

6.局放測(cè)試，即局部放電測(cè)試；

7.壽命測(cè)試，即在老化測(cè)試的基礎(chǔ)上，再對(duì)電容進(jìn)行高頻沖電流下快速充放電測(cè)試，得到的充放電次數(shù)就是充放電壽命。注意，這個(gè)壽命的得出是在長(zhǎng)時(shí)間的老化之后得出的。

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