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        當(dāng)在正常使用壓敏電阻器時(shí)，一般是不會(huì)自然起火的，一旦發(fā)生起火燃燒的情況，多數(shù)是由兩大原因造成：第一種老化失效問(wèn)題、第二種暫態(tài)過(guò)電壓破壞。

第一種老化失效問(wèn)題：

這是指電阻體的低阻線性化逐步加劇，漏電流惡性增加且集中流入薄弱點(diǎn)，薄弱點(diǎn)材料融化，形成1kΩ左右的短路孔后，電源繼續(xù)推動(dòng)一個(gè)較大的電流灌入短路點(diǎn)，形成高熱而起火。這種事故通常可以通過(guò)一個(gè)與壓敏電阻串聯(lián)的熱熔接點(diǎn)來(lái)避免。熱熔接點(diǎn)應(yīng)與電阻體有良好的熱耦合，當(dāng)最大沖擊電流流過(guò)時(shí)不會(huì)斷開(kāi)，但當(dāng)溫度超過(guò)電阻體上限工作溫度時(shí)即斷開(kāi)。研究結(jié)果表明，若壓敏電阻存在著制造缺陷，易發(fā)生早期失效，強(qiáng)度不大的電沖擊的多次作用，也會(huì)加速老化過(guò)程，使老化失效提早出現(xiàn)。

第二種暫態(tài)過(guò)電壓破壞：

能夠引起壓敏電阻器發(fā)熱起火燃燒的因素，是暫態(tài)過(guò)電壓破壞。這種問(wèn)題多數(shù)會(huì)發(fā)生在供電領(lǐng)域中。出現(xiàn)這種情況時(shí)，較強(qiáng)的暫態(tài)過(guò)電壓會(huì)造成電阻體穿孔，導(dǎo)致更大的電流而高熱起火。這種過(guò)程是瞬間發(fā)生的，上文中體積的在電阻體上設(shè)置熱熔接點(diǎn)的方式對(duì)這種情況無(wú)法起到保護(hù)作用。面對(duì)這種情況，我們的對(duì)策是設(shè)置壓敏電阻串聯(lián)電流熔絲，從而對(duì)壓敏電阻進(jìn)行有效保護(hù)。